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基于加速退化试验的脉宽调制器贮存寿命预测研究-现代电子技术2024年16期

基于加速退化试验的脉宽调制器贮存寿命预测研究

作者:游文超 孙高宇 彭珂菲 黄姣英 字体:      

摘  要: 脉宽调制器作为开关电源的核心器件,已广泛应用于航天器中,但其贮存寿命会影响电源系统的可靠性,进而影响航天器任务执行的成败。在寿命评估中,加速退化试验是常用的试验方法,其中激活能值是预测器(试读)...

现代电子技术

2024年第16期