摘 要： 由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长，在自动化测试设备（ATE）上进行高低温测试时，长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离（试读）...
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