摘 要： 针对FPGA内部的LUT资源覆盖测试，提出一种新型BIST的测试方法。通过改进的LFSR实现了全地址的伪随机向量输入，利用构造的黄金模块电路与被测模块进行输出比较，实现对被测模块功能的快速测试，并在Vivado 2（试读）...
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