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半导体控制线路短路故障检测技术研究-中国新技术新产品2025年16期

半导体控制线路短路故障检测技术研究

作者:朱充 字体:      

中图分类号:TN30 文献标志码:A

随着科技飞速发展,半导体器件在电子设备中广泛应用,其可靠性和安全性备受关注。半导体控制线路作为关键部分,其稳定性直接影响系统运行。短路故障常见且原因多样,例如老化、设计缺(试读)...

中国新技术新产品

2025年第16期