我国科学家在量子精密测量领域获重要进展，有望为当前10纳米以下芯片中的缺陷检测提供一种强有力的技术手段。国际学术期刊《自然·光子学》（Nature Photonics）1月5日在线发表了这一进展。
最近20多年时间里，量子传（试读）...
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